动态模拟机能提供低成本高效MEMS测试

台北讯
手机功能日新月异的时代，促使微机电芯片应用于手机功能设计的情况也愈趋广泛，诸如高度计、加速器、陀螺仪、磁力计、麦克风均运用于手机内，由于手机功能及轻薄短小的需求，致使微机电的产品的整合需求更是刻不容缓。微机电芯片的整合导致其测试的困难度及成本也因此相对提高，为了有效降低成本，并行测试及同一时间能测试多种功能的设备需求也应运而生。

由于业界需求能同时测试加速器、陀螺仪、磁力计的需求日趋强烈，也因为加速器、陀螺仪、磁力计均需要于测试时，各提供三轴旋转的动态模拟，因此测试分类机如能提供此九轴的动态模拟将可有效降低测试成本。

并行测试更是另一项成本考量，由于微机电芯片的测试时间少则五、六秒，多则几十秒，因此如果能够同时测试数十颗甚至百颗芯片将可有效降低成本提高竞争力。然而微机电芯片是利用微金属结构来侦测外力的变化，如果没有于封装完成后切割成单一产品时即先行测试，将因为测试时的外力产生产品些许的变形，导致产品测试时精准度的误差。因此将微机电产品利用Strip Handler测试有极大的困难度。

为了因应业界需求Multitest提供了InCarrier的载具，可将切割后的微机电集成电路置于此载具，由于产品已经切割完毕因此测试时的外力不至于影响产品产生型变，如此利用Strip Handler达到同时测试数十甚至百颗芯片的目的。由于Strip Handler的转换时间非常短暂，因此每小时产出量可高达上万颗。利用InCarrier载具亦可用于使用于不同温度上的测试，而且不同温度测试的结果及数据都可轻易追溯，而且可以让测试时的作业更为简便。

Multitest也提供各种三轴、六轴及九轴的动态模拟机能同时测试加速器、陀螺仪及磁力计并结合Strip Handler及InCarrier载具将可有效大大降低测试成本及增加产出量以应市场的庞大需求。相同的只要换上声源模拟器亦可测试微型麦克风。
（本文由Multitest Electronic Systems(Taiwan)提供，记者陈萍整理。）