爱德万测试携手MultiLane开发可插拔的高速测试仪器

爱德万测试(Advantest Corporation)宣布与MultiLane Inc.携手合作，开发能扩大V93000平台效能的检测仪器，以更精省的成本，测试次时代数码高速界面。Multilane的仪器，可提供四阶脉冲振幅调变(PAM4)信号高达112Gbps的测试数据速率；而在非归零(NRZ)数据格式下则可达56Gbps的速率，并具备50GHz带宽的波型分析(scope analysis)能力。

透过密切合作，发展出高度整合的解决方案，将高频信号源尽可能地靠近待测元件(DUT)，并且大幅强化信号完整性(signal integrity)和测试准确度。

爱德万测试与MultiLane结合各自资源，提供真正创新的解决方案，非常适合测试应用于数据中心、人工智能(AI)等应用的次时代元件。MultiLane贩售及支持的新仪器，将进一步提高V93000系统的数码与类比最高频率，达到发展最新通讯建设所需的关键等级。此次联手，打破传统自动化测试设备(ATE)解决方案的窠臼，使ATE DUT载板能搭配MultiLane高频率仪器来使用，以及在ATE上使用如同工作台(bench)的测量与特性分析(characterization)工具。

整合的软件环境保有工作台仪器原有的弹性与互动性佳的特点，同时又能在量产环境下控制及管理仪器。

爱德万测试ATE事业群V93000事业部执行副总Juergen Serrer表示：「MultiLane和爱德万测试的合作，使双方实力都有所成长与提升，为我们的客户提供数据中心与AI成长计划最为关键的宽频112-Gbps PAM4测试能力。」

MultiLaneCEOFadi Daou也指出：「MultiLane很荣幸能把我们的产品，带给采用爱德万测试公司半导体测试设备的客户群；也把V93000强大的功能组，介绍给MultiLane所经营的通讯相关客户群。随着我们的主要客户扩大整合的程度，V93000将提供他们更好的整合性功能，协助他们强化产品测试和加速上市时间。」