爱德万测试参加旧金山SEMICON West

半导体测试设备领导供应商爱德万测试(Advantest Corporation)将参与7月10日至12日在旧金山Moscone会议中心举办的2018年SEMICON West半导体设备展，届时在展场、技术研讨会与课程活动皆可见到爱德万测试人员积极投入的身影。爱德万测试全球行销传播副总裁Judy Davies表示：「爱德万测试除了展示针对广泛应用的最新IC测试解决方案，也将发表两篇技术论文并参与在SEMICON West期间举办的首届High Tech U活动。」

爱德万测试将于南厅(South Hall)1105号摊位展示最新FVI16的VI浮动电源供给模块，可提供V93000单一可扩充平台业界最高的VI信号效能。FVI16模块能提供250W的高脉冲功率以及最高40W的直流电功率，能使V93000系统在更高电压、更多通道数与更大电力需求下，测试高脚位数IC，开创电源管理应用的新市场机会。

现场也将展出支持广泛用于移动电子装置与服务器DDR5与LPDDR5存储器的T5503HS2 测试机台。用户可选择购买新系统或选择升级现有T5503测试机，此次的测试解决方案可测试数据传输速度高达8 Gbps 的存储器，足以处理今日最先进双倍数据速率SDRAM半导体的最高工作频率。此解决方案最高可平行测试512个DDR5装置，以更低测试成本达到更高产出。

此外，爱德万测试将展示T2000整合式电源管理元件测试解决方案(IPS)以及两款最新模块。新推出的两款模块可测试应用于混合动力／电动车市场的模拟IC，且可测量最高300V的电压，误差不超过100uV。由于模块资源可以相互叠加组合，故客户可按不同效能需求调整测试机台的功能与产能，而这样的弹性也确保T2000 IPS测试机台经得起长久使用。

其他展出的测试解决方案包含针对类比、数码与混合信号装置量产环境测试而设的EVA100量测系统，以及体积小巧的M4171 分类机，用户可随时随地透过网络线上操作此款机台，有助提升实验室效率。不仅如此，摊位展示区将播放影片呈现爱德万测试Wave Scale系列的测试解决方案、MPT3000 平台针对SATA、SAS与PCIe固态硬盘(SSD)的系统级测试能力，以及先进物联网(IoT)测试解决方案。

爱德万测试除了展示产品，也将积极参与在SEMICON West期间举办的SEMI技术研讨会与Test Vision 2020论坛。爱德万测试业务发展总监Derek Floyd担任Vision 2020计划主持人，并将以爱德万测试专家身份在为期两天的活动于北厅(North Hall)20号会议室发表两篇技术论文。在7月11日(三)上午11点25分，爱德万测试ADS事业群系统规划资深总监Kotaro Hasegawa将发表题为「为自驾车而设的车用IC测试」演说，并将于7月12日(四)下午3点10分发表题为「28-GHz 5G RF测试体验」的论文。

爱德万展望未来，将共同赞助于SEMICON West期间举办的首届SEMI High Tech U活动，该活动将于7月10日至12日协助15~17岁的高中生更了解半导体产业、探索职涯可能性以及参观部分参展厂商摊位，近距离接触半导体产业。爱德万测试人员将参与该活动的3个项目，包含讲授爱德万测试与KLA-Tencor共同规划的人工智能(AI)与IoT课程内容、安排学生练习面试以及主持最后一天课程，欢迎追踪爱德万测试推特帐号@Advantest_ATE。