中文繁體版   English   星期五 ,5月 25日, 2018 (台北)
登入  申请试用  MY DIGITIMES236
 
中铵
Reserch

NI 将半导体测试系统的 PXI SMU 通道密度提升6倍

  • 李佳玲

NI国家仪器(Nasdaq: NATI)为平台架构系统供应商,致力于协助工程师与科学家解决全球最艰钜的工程挑战。日前,NI发表了PXIe-4163高密度电源量测单元(SMU),其DC通道密度为上一代NI PXI SMU的6倍,适合用来测试RF、MEMS与混合讯号,以及其它类比半导体元件。

NI全球销售与营销执行副总Eric Starkloff表示,「5G、物联网与自动化汽车等高颠覆性技术的出现,迫使半导体产业必须持续推动技术发展,并采用更具效率的方式来进行半导体测试。半导体测试在NI的策略布局中占有重要地位;正因如此,我们正积极扩充旗下软件平台与PXI的功能,并促成最新款PXI SMU的问世;PXI SMU可协助芯片制造厂解决眼前的重大挑战。」

许多芯片制造厂均已迅速采用半导体测试系统(STS),以达到提高产量、提升成本效益与缩减生产线规模等目的。新款PXIe-4163 SMU 可进一步发挥上述功效。PXIe-4163 SMU具备更高的DC通道密度,能在多站点应用上实现更高等级的平行机制,同时透过可立即用于生产的规格,达到实验室等级的量测质量。工程师可结合运用上述优势,将相同的仪控设备运用在检验实验室与生产在线,如此即可减少与量测相关的种种难题,并缩短上市时间。

工程师可将新款PXIe-4163 SMU,运用于STS设定或独立式PXI系统中。产品的主要功能如下:

最多可提供24个通道的单一 PXI Express插槽、每个通道+/- 24 V、每个通道提供高达100 mA的源极/汲极、100 pA的电流敏感度、高达100 kS/s的取样率与更新率、具备 SourceAdapt,可将过冲与震荡降至最低、提供交互式的设定与除错软件、可容纳高达408个高精确度SMU通道的单一PXI机箱(4U 的机架空间)、可完整支持STS,包括系统层级的接线、校准与接脚映射支持。

STS于2014年首度发表,为半导体生产测试提供了截然不同的方式。STS是以NI PXI平台为基础所建置而成,可协助工程师建置更具智能效能的测试系统。这款PXI平台涵盖1 GHz带宽的矢量讯号收发器、fA系列SMU、领先业界的商用现货测试管理软件TestStand,以及超过600款PXI产品(从DC到mmWave皆包含在内)。若要深入了解STS功能,请造访 STS 产品网页


NI将半导体测试系统的PXI SMU通道密度提升6倍



>