爱德万展示最新SSD测试方案于快闪存储器高峰会

半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest Corporation)(TSE: 6857) 于近日假加州圣克拉拉会议中心(Convention Center)举行的年度快闪存储器高峰会(Flash Memory Summit)上，展示针对PCIe Gen 4固态硬盘(SSD)的最新解决方案，采用的是其MPT3000测试机台；此外亦将于会上发表两篇技术论文。爱德万测试为2018年度峰会的黄金级赞助商。

爱德万测试将于第606号摊位展示业界首款，针对PCIe Gen 4 SSD之开发与制造而设计的单一系统测试解决方案，采用其MPT3000平台。此款完全整合的系统将能帮助客户加速次时代SSD产品的上市期程，其优势在于运用了爱德万测试PCIe Gen 3测试解决方案业已通过严谨验证的测试架构和软件，并且免除了等待第三方Gen 4应用广泛商用的时间。鉴于上述优点，爱德万测试得以为SSD制造业者开拓一条风险最低、速度最快的产品上市途径。

在8月8日 (三) 上午8:30登场的201-1「测试/效能分析」(Testing/Performance Analysis) 议程中，Linden Hsu将以「诊断发生于测试期间的SSD故障问题」(Diagnosing SSD Failures During Testing) 为题发表演说，分享如何藉由蒐集、分类和分析来自DUT与测试设备的信息，找出装置故障的原因。

接着，在8月9日 (四) 上午8:30举行的301A-1「测试议题」(Testing Issues) 议程中，Sneha Nadig将针对「双埠NVMe SSD测试」(Testing Dual-Port NVMe SSDs) 做分享，涵盖具备多信号路径且能同步连结两个主机的装置，这类装置性能在企业存储市场大获青睐。