爱德万总裁吉田芳明获列VLSIresearch 2018 ALL STAR名人堂

半导体测试设备领导厂商爱德万测试，其公司总裁暨CEO吉田芳明，已获列为2018芯片制造业ALL STAR 企业名人，跻身VLSIresearch 芯片历史中心名人堂，与半导体产业最知名、最有贡献的名人共同并列。每年，VLSIresearch都会为这些高端经理人与领导人，对其在带领公司与产业推动这一路上的辛劳贡献，致上最高敬意。

引用吉田先生对持续发展中的半导体产业成长与成功的愿景，VLSIresearch 的CEODan Hutcheson特别强调，吉田先生对 「Grand Design」、以及对爱德万测试未来的中期计划策略与执行方向是非常清楚的。这些在2018年落实的策略，一方面除了强化爱德万测试的核心业务，更同时追求卓越经营，并利用持续增强顾客价值的整合化解决方案，来向外拓展。

此外，在新业务的开拓上，爱德万测试将持续扩大其业务领域，将相关市场，如半导体设计与评估、以及产品系统级测试流程等等一并纳入。HutchesonCEO同时也注意到，爱德万测试2018年的成就，就足以证明其成功，并说明在吉田总裁暨CEO的带领下，爱德万显然已经超越了测试与量测的领域。

在得知自己被列入2018 ALL STAR名人堂后，吉田总裁暨CEO表示 :「获得此项殊荣，同时能与我长期以来景仰的半导体产业领袖和先知们并列，实在令我愧不敢当。非常感谢VLSIresearch的团队颁发给我这样的荣誉，同时我也要恭喜所有2018 ALL STAR的得奖人与他们的成就。」