3D IC可为芯片性能带来重大突破 智能应用 影音
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3D IC可为芯片性能带来重大突破

  • 涂翠珊综合报导

透过矽穿孔(TSV)将存储器堆叠在逻辑上的3D IC设计,可望大幅提升芯片效能,因此正逐渐受到产业重视。然而芯片的散热以及EDA工具的开发,都是发展3D IC首先要设法解决的问题。据Semiconductor Engineering报导,3D IC封装的目的是...

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