宜普公司发布第十一阶段可靠性测试报告

EPC公司发布第十一阶段可靠性测试报告，与工程师分享受测元件如何实现优越的现场可靠性的策略，在广阔测试条件下，采用失效性测试元件(test-to-fail)的反覆测试方法，从而知道如何构建更稳固的产品以达到应用所需，例如面向全自动驾驶车辆的激光雷达、LTE通信基站、汽车的车头灯及卫星等应用。

失效性测试元件方法是比较数据表上所列出的元件限制值和应用中产品的效能，从而知道元件的工作极限。最重要的是，可以知道元件的固有失效机理，从而找出失效的根本原因。如果知道元件在工作一段时间后的效能、温度、电气或机械应力情况，工程师就可以知道该产品在一般工作条件下的实际安全工作寿命。

这个报告包含7个部分，每个部分描述各种不同的失效机理。第一：影响eGaN元件的闸极的固有失效机理、第二：动态导通电阻的固有机理、第三：安全工作区域、第四：在短路情况下测试元件至失效、第五：采用专有的测试方法，长期置元件于激光雷达脉冲应力条件下，测试及分析元件的可靠性、第六：机械力的应力测试以及第七：元件的现场可靠性。

宜普电源转换公司的CEO兼共同创始人Alex Lidow博士表示，氮化镓元件实现量产已经超过10年。这些器件在实验室测试及在客户的量产产品和应用中，都展示出非常高的可靠性。宜普的第十一阶段可靠性测试报告旨在继续实践我们的承诺，与工程师分享我们在这10年间所累积的数百万个元件，测试经验及五代技术的知识。这些可靠性测试可进一步了解氮化镓元件在广阔的应力测试条件下的效能。