爱德万推出推出新款T5851 STM16G内存测试系统

半导体测试设备厂商爱德万测试(东京证券交易所股票代码：6857)推出新款T5851 STM16G内存测试系统，专用于评估包括UFS3.0通用闪存和PCIe Gen 4 NVMe 固态硬盘(SSD)等高速协议NAND闪存，预期这两种装置在LTE 5G通信市场的需求量将会非常大。

移动和汽车通信市场正在蓬勃发展。据估计，智能手机中所有的NAND内存很快都将使用高速串行协议界面控制器，如PCIe和UFS，其中大部分将需要系统级测试(SLT)。此外，UFS存储器的出货量预计将在未来3年内增至近3倍，并超越目前的市场领导者嵌入式多媒体卡(eMMC)。市场研究公司IHS Markit指出，到2021年 eMMC，UFS和NAND智能手机出货量将超过8亿台。

新型T5851 STM16G系统的多协议架构使其适合使用在工程和大量生产的环境中，测试所有带球栅阵列封装(BGA)或平面网格阵列封装(LGA)的固态硬盘。使用单一共享平台可降低部署风险，同时系统的模块化可升级性则可提高使用者的投资回报。

通用，可扩展的平台具有测试多协议NAND设备的多功能性，速度高达16 Gbps。该系统的tester-per-DUT 架构支持并行多达768个设备的快速SLT所需的测试流程。

T5851 STM16G的配置和性能可针对任何一代设备进行优化。爱德万测试的FutureSuite 软件确保新测试机台可以轻松与T5800产品系列的所有其他产品整合。

新的内存测试系统有许多额外的好处，它可以与爱德万测试的M6243或M6244自动化分类机结合使用，建构一个开机即用的整套测试单元；它具有液体冷却系统进行可靠的热管理；并提供绝佳的可靠性。

T5851 STM16G内存测试系统预计在2019年第2季度开始交货。