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穿戴装置吹起轻薄风 带动封测技术大进化

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在使用者体验当道的状况下,穿戴式装置业者亦极力推出更小、更便于携带的装置,让消费者可随时侦测心跳、运动状况等生理信息,乃至于记录骑乘自行车的完整历程。图片来源:Garmin
在使用者体验当道的状况下,穿戴式装置业者亦极力推出更小、更便于携带的装置,让消费者可随时侦测心跳、运动状况等生理信息,乃至于记录骑乘自行车的完整历程。图片来源:Garmin

尽管智能手机出货量在2016年出货量创下13.6亿的新高,但成长率仅有4.7%左右,且平均销售价格也不断持续下滑中。为求能够在竞争激烈的市场中胜出,各家业者在加快新款手机推出速度之虞,也着重在软件新功能的研发,以及推出更轻、更薄的手机,以2009年上市的Apple iPhone 3GS为例,手机厚度为12.3mm、重量为135克,但是2016年上市的Apple iPhone 7,在功能与运算能力大幅提升的状况下,手机厚度反而缩减到7.1mm、重量则仅微增到138克。

前述状况也出现在当红穿戴式装置上,在使用者体验当道的状况下,业者亦极力推出更小、更便于携带的装置,让消费者可随时侦测心跳、运动状况等生理信息,乃至于记录骑乘自行车的完整历程。只是受惠于半导体制成从早期32/28nm,进步到主流的16/14nm,各种芯片体积得以缩小,但若没有先进封测技术加持,缩短各芯片之间电流与数据的传输距离,亦恐怕不易达成轻薄短小的目标。

Apple iPhone 7受惠于台积电研发的InFo封装技术,得以达成轻薄、省电的目标,也让更多人看到扇出型晶圆级封装技术未来的应用面向。图片来源:Apple

Apple iPhone 7受惠于台积电研发的InFo封装技术,得以达成轻薄、省电的目标,也让更多人看到扇出型晶圆级封装技术未来的应用面向。图片来源:Apple

预先整合多颗芯片  系统级封装有助缩小体积

传统电子设备的芯片封装方式,多半采用单列直插封装、插针网格阵列、球栅阵列封装等,不仅可保护核心芯片运作过程中的安全,亦能防止碰撞或划伤的物理损坏,并提供对外连接的引脚,可方便与其他芯片串连。最后,再利用线径15?50微米的金属线材,将芯片及导线架连接起来的打线接合技术,串连整个电路板中的各种应用芯片芯片,便能完成让电子设备能够正常运作的目的。

尽管前述传统封测技术已相当成熟,且具备良率高、成本低廉的优点,但是受限于材料上的物理限制,已经很难在既有基础上将芯片之间的距离缩短,以至于无法符合时下轻、薄的趋势,以及更省电的要求。为此,许多半导体业者、封测业者便舍弃前述传统技术,改以系统级封装(SiP)、晶圆级芯片尺寸封装(WL-CSP)的方式,将传感元件、微控制器、处理器、存储器、被动元件、功率放大器等关键元件,整合体积愈来愈小的移动设备中。

简单来说,系统级封装是SOC为基础所发展出来的先进封装技术,即是将芯片以2D、3D的方式接合到整合型基板的封装方式,构建成更为复杂的、完整的系统。

该技术包括多芯片模块、多芯片封装、芯片堆叠、堆叠式封装、Package in Package、内埋元件基板等多种,尽管封装方式与应用面相稍有差异,但最大特色在于能够减小封装体积、重量,以及达成降低功耗的目标。

节省空间与距离  覆晶封装技术受青睐

身为全球封测市场龙头的日月光,在系统级封装之外,也在2016年Computex Taipei中,展出针对消费性电子体轻薄化设计的覆晶封装技术(Flip-Chip),为微型化、移动设备与物联网提供所需解决方案。

覆晶封装技术是将芯片连接点,转变成凸块成为晶圆凸块(wafer bumping)后,在将芯片翻转过来使凸块与基板直接连结,即可达成节省下空间的目标。

由于晶圆凸块上每个凸点皆是IC信号接点,多用于体积较小的封装产品上,其运作原理为利用薄膜制程、蒸镀、电镀或印刷技术,将焊锡直接置于IC脚垫上,接着再利用热能将凸块熔融,并进行封装,具有密度大、低感应、散热能力佳等优点。

至于覆晶封装内部,则是利用凸块作为电气通导路径,分布范围整个芯片,位于芯片中心附近的凸块品质检测,则仰赖赖自动化检测设备以确保凸块品质,借此达成高良率目标,也是目前穿戴式装置常用的封测技术之一。

至于时下讨论度极高的晶圆级封装(Wafer Level Packaging;WLP),则是在整片晶圆生产完成后,直接在晶圆上进行封装测试,完成之后才切割制成单颗IC,不须经过打线或填胶,而封装之后的芯片尺寸等同晶粒原来大小,因此常被称为芯片尺寸晶圆级封装(Wafer Level Chip Scale Package;WLCSP)。

相较于前述封装方式,WLP具有较小封装尺寸与较佳电性表现的优势,较容易组装制程、降低整体生产成本等。此外,由于WLP可整合晶圆制造、封装和测试,可省下送去封测厂封测的时间,可简化晶圆代工到产品出货的制造过程。

传统WLP封装多采用Fan in型态,但是伴随IC信号输出的接脚数目增加,对球距要求趋于严格,加上部分元件对于封装后尺寸、信号输出脚位元位置的调整需求,因此变化衍生出Fan out,或是Fan in及Fan out相互运用等各式新型WLP封装型态,其制程概念已跳脱传统WLP封装。

目前WLP主要搭配28、16纳米等先进制程使用,主打价格较高、诉求效能的消费性电子产品。而看好WLP未来发展潜力,包括日月光、矽品、力成等大型封测厂,以及主打定制化服务的新晶圆或封测厂,均积极加强化高端封装制程能力,期望借此争取到毛利较高的订单,同时强化因应物联网时代来临的能力。

突破材料、成本瓶颈  扇出型晶圆级封装技术锁定穿戴装置

尽管台积电始终没有公开承认,不过多数专家认为该公司能够独揽Apple iPhone 7订单的关键,便在于拥有自行研发的整合扇出型晶圆级封装技术(Integrated Fan-Out),能够满足智能手机芯片接脚数目快速增加,以及对体积必须轻薄、短小的要求。

该技术是以前述Fan out技术为基础,最大特性在于不需要搭配基板使用,即可让多种不同芯片彼此沟通与交换数据,省去传统封装制程时间与成本,不仅封测成本相对便宜,封装厚度也可变得更薄,完全迎合时下消费电子产品走向便于携带的趋势。

其实,扇出型晶圆级封装概念是由英特尔移动(Intel Mobile)提出,并且在2009-2010年期间商业化量产,初期主要应用在手机基带芯片的单芯片封装,2012年则首度被应用在无线通讯设备之中。

然而若要在28纳米、16纳米等先进制程使用扇出型晶圆级封装技术,则必须克服焊接点的热机械行为、芯片位置之精确度、晶圆的翘曲行为、胶体的剥落现象等问题,所以该封测技术曾经一度面临应用上瓶颈,被许多专家视为不适合商业化使用。

不过,随着台积电克服材料、技术上问题,顺利将扇出型晶圆级封装应用在Apple iPhone 7上,又重新证明该技术是目前迎合穿戴式装置轻薄趋势的最佳方案,目前也吸引不少大封测厂积极布局,期望以此抢攻上万亿美元的物联网商机。



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