Renishaw全系列量测方案改善及监控生产制程

  • 朱雅琳
XM-60多光束雷射校正仪。

在精密测量和医疗保健领域拥有专业技术的Renishaw于日前参加第26届台北国际工具机展展出全系列先进的量测产品与解决方案,并分享Renishaw的生产制程监控理念及经验,现场演示一系列全新产品及方案,包括XM-60多光束雷射校正仪及全系列机器校准解决方案、 Renishaw AM 400积层制造系统,以及适用于REVO多感应器系统的全新RVP非接触式影像测头。

Renishaw于TIMTOS期间在台北世界贸易中心一馆的第二会议室举办「快速提升工具机性能, 迎接智能制造新世代」研讨会,展示XM-60新一代多光束雷射校正仪的技术发展与应用优势,例如:如何以独有技术、光学侧转角量测和光纤发射等强大诊断功能,一次撷取量测该轴的所有几何误差,帮助提升生产效益,为智能制造作好准备。

制程改善的第一步

不论工厂使用哪里种工具机或其它机器设备,在开始切削、材料加工或测量零部件之前,都需要知道设备运行是否正常。了解设备位置性能的每项特性随时间而变化的详细情况是非常重要的,为了能准确预测设备的维护需要,预先制定应对计划,且有效掌握工具机性能, 将具有特定公差要求的工作安排给能够达到这些要求的机器设备,提升生产效率并降低废品率。

Renishaw的一系列机器校准解决方案,包括XL-80 雷射干涉仪系统、QC-20W循圆测试仪系统、以及全新XM-60多光束雷射校正仪能有效评估、监控并提高机床、座标测量机及其它位置精度要求关键的运动系统的静态和动态性能。

QC20-W循圆测试仪诊断工具机状况,检查工具机性能,查找工具机本身的定位误差 (这和工具机的新旧无关 - 新旧机器都可能有误差) ,作有效的控制检修与质量维护。精准易携的XL-80以稳定的雷射光源和准确的环境补偿,可确保 ±0.5ppm的线性量测精度。以50 kHz的频率进行资料撷取,即便是在最高速度下,最大线性量测速度可达4m/s,且线性分辨率达1nm。

回转轴的应用,特别在五轴工具机上越来越普遍。传统测量回转轴的方法不但费时,而且对检测员的能力要求较高。XR20-W回转轴校准装置后与XL-80激光干涉仪配合使用, 改变测量回转轴的方式提供全自动化无线校正, 有效减省设定时间。

全新XM-60多光束雷射校正仪的强大雷射量测光学侧转角量测和光纤发射光学侧转角量测和光纤发射技术,只需一次设定便能以任何方矢量测六个自由度 - 同时进行线性、倾角、偏角、侧转角、水平和垂直真直度量测。

制程前设定与制程中监控

Renishaw检测测头、刀具设定和软件解决方案在制程前及制程中提供刀具设定、破损刀具检测、工件设定、加工循环中检测,并自动进行刀具补正更新,为生产线增加自动化操作,提高质量稳定度与一致性,减少追加工、制程妥协及废品。

改良的Inspection Plus with SupaTouch软件自动判断并选择工具机所能达到的最高进给速度, 自动优化机上量测循环,尽量缩短循环时间并充分发挥工具机生产力。与传统软件循环相比,Inspection Plus with SupaTouch在CNC工具机上缩减多达60%的循环时间。 Inspection Plus with SupaTouch能侦测在机器加速或减速过程中所撷取到的任何量测值,并藉由采取修正措施和重新量测以修正错误,确保最高精度。

后制程监控

三次元量床量测是有效的后制程监控方案之一,五轴量测系列产品是量测功能有史以来最大的跃进式变化,能提供无可比拟的高速和量测弹性,同时避免传统技术在速度和精度之间的取舍折衷。Renishaw五轴三次元量床测头系统,包括REVO多感应器系统及PH20接触触发式CMM测头皆能提升量测工作产量、最低的前置时间,并能为制造商提供更全面化的的产品质量掌控能力。

Renishaw摊位更展示RVP非接触式影像测头,RVP可藉由对现有接触式触发新增非接触式检测、高速接触扫描和系统的表面粗糙度量测功能,以增加 REVO的多感应器功能。

对于特定应用来说,非接触式检测具备的优点,明显胜过传统的接触测头量测技术。布满0.5mm小孔的金属薄板工件或元件,以及不适合接触量测的工件,皆能以RVP系统进行完整的检测,大幅提升产能、改善CMM的功能。了解详细产品信息,请浏览Renishaw网站

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