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爱德万于SEMICON China展示人工智能测试的解决方案

  • 林仁钧台北

半导体测试设备领导厂商爱德万测试于3月20~22日,在上海新加坡际博览中心所举行的SEMICON China,为多元化快速发展的人工智能(AI)与高效能运算市场,展示V93000人工智能测试解决方案,并发表相关技术论文。

V93000 单一可扩充式平台目前已获全球主要AI芯片设计者肯定并广为使用,包括国内大陆领先的人工智能无晶圆厂公司所使用。

人工智能和高效能运算应用涵盖了包括服务器厂、无人驾驶汽车、边缘运算,人脸识别,以及加密货币等。 V93000平台的顶尖扫描测试能力、设备电源(DPS)的最佳组合,以及高速仪器等,使该系统赢得了约80% 的测试市场。

爱德万测试的通道卡(channel cards)系列,让V93000系统能具有业界领先的效能和多功能性。当搭配Pin Scale 1600B 卡时,此测试系统在扫描的矢量存储器深度已超越业界,还能以每脚位 1.6 Gbps 快速的数据传输速率执行测试。对于需要数十至数百安培核心电源的元件,V93000也可藉由DC Scale UHC4T 卡,来达到领先业界的负载阶跃响应 (load step response)。

为了要测试高达 16 Gbps 的高速 IC,Pin Scale 1600B 、Pin Scale 9G ,以及Pin Scale SL 卡都能支持以模式为主或伪乱数二进位数列 (PRBS)之测试。

此外,在测试过程中测试元件会消散数百瓦的功率,爱德万测试也是唯一能够提供具有主动式温度控制(ATC)整合测试方案的ATE供应商。若将V93000与M4872分类机搭配,整体方案除能控制待测元件(DUT)的温度在防护带内并能达到最大的产能。

SmartShell软件可直接在设计和模式产成的环境中加速初始模式的生成。此外,还有专用数据库可用来支持自动测试程序的产生。两种工具都能协助缩短新IC设计上市的时间。

爱德万测试ATE事业群V93000事业部执行副总裁Juergen Serrer表示,「人工智能与5G将是V93000事业部的主要业务区块,藉由近期在国内大陆市场的成功,我们也将继续扩大在人工智能测试领域的全球领导地位。」此外,「V93000 Smart Scale系统兼具高效能和低成本的测试优势,所以能成为高端计算、图形和机器学习元件的领先测试解决方案。」

V93000人工智能测试解决方案将于SEMICON China N4厅 #4431摊位上展示。另外,3月21日在上海长荣桂冠酒店所举行的人工智能与半导体科技论坛当中,爱德万测试的高端主管Zhang Ke,将分享运用在云端及边缘运算相关应用之人工智能产品的测试解决方案。


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