爱德万测试 打造多元半导体解决方案

爱德万测试 打造多元半导体解决方案

随着科技日新月异，人们对于储存装置、联网装置需求越来越高，应用的范围也越来越广，厂商如何给予使用者安全与稳定的产品是大家所关注的焦点，爱德万测试在11月28号Advantest Press Conference 爱德万测试记者会介绍不同种测试产品解决方案，协助厂商解决不同环境的问题。

爱德万机电整合事业处／新产品事业处副总经理苏勇鸿表示，公司针对云端、5G、存储器、IoT等应用领域都有其配合应用的产品，未来通讯将进入高速传讯的时代，在存储器上会碰到大量数据传输，产品需要稳定的传输与接收，而汽车产业需要进行更多艰困环境的模凝测试，爱德万测试可协助产业多元且有弹性的测试。

因此，在活动当中爱德万介绍了多种适用于不同产业地应用测试，如V93000测试平台搭载FVI16浮动电源VI供应，应用于电源供应、量测准确度还是类比／功率效能，并且具备数码回馈技术具备多项特色，可滤除突波杂讯的「智能连线」，并持续进行监控，以确保可靠而高精准的量测。

爱德万解释，FVI16可用于测试汽车以及工业用或消费性移动充电应用的电源与模拟IC，包括成长快速的电动车和快充市场。新电源供应模块能提供250瓦高脉冲功率，直流电供应最高可达40瓦，充足的电源供给使机台能在测试新一代元件的同时，兼顾稳定而重复的量测工作。

其次爱德万T5503HS2测试系统机台为测试新时代存储器装置，提供测试解决方案，可测试时脉精确度为±45皮秒(picoseconds)，数据传输速度高达8Gbps的存储器。此多功能测试系统共有16,256通道，用来测试新时代LP-DDR5与DDR5 SDRAM装置时，可达到半导体业界最高平行测试数量，以及最佳成本效益，同时用户仍可继续测试现有的DDR4与LP-DDR4与高带宽存储器。此测试机台若选择配备4.5-GHz高速时脉信号产生器，便可扩展测试未来8Gbps以上数据传输率的存储器芯片。

另一方面，爱德万也介绍了一套MPT3000平台，此一平台将能涵盖PCIe Gen 4装置的所有测试需求，包括运用MPT3000ES系统进行工程测试、运用MPT3000ENV系统进行可靠性验证测试(RDT)，以及运用MPT3000HVM系统进行生产测试，毋须耗时等待第三方PCIe Gen 4 SSD应用上市。

此外，藉由提供客户从设计到制造的完整测试流程，MPT3000解决方案将能大幅简化过渡到下一时代装置的进程，而且使用的是与爱德万测试PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构与软件。此全方位解决方案为SSD制造业者开拓出一条风险最低、速度最快的产品上市途径。

最后一项则是M4171分类机，M4171将可满足客户在元件特性验证和试产良率攀升阶段，对于高功耗IC温度控制测试的需求，提供移动电子装置市场最经济实惠的选择。

此一新款可移动、Single-site分类功能在工程实验室中自动装载和卸载元件，并设定温控和做好元件分类，不需再仰赖人力手动处理，同时和传统较大、较贵的量产规模分类机台一样，具备主动式温度控制(ATC)功能。客户随时随地都能透过网络线上操作M4171机台，顺畅执行元件分类与温度控制作业。采用此新款分类机不仅可精简操作人力、节省实验室成本，更能协助身处不同地点的工程团队，大幅提升系统利用率。