爱德万率先上市PCIeGen4SSD全方位测试解决方案

半导体测试设备领导供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)(TSE: 6857)，发表针对PCIe Gen 4固态硬盘 (SSD) 之开发、除错与量产的完全整合测试解决方案，运用业已通过严谨测试的MPT3000平台，此平台系统亦获PCIe Gen 3、SATA与SAS SSD制造大厂采用。有了这套全新整合式测试解决方案，SSD制造商如虎添翼，MPT3000 PCIe Gen 4产品已经上市。

MPT3000平台现在将能涵盖PCIe Gen 4装置的所有测试需求，包括运用MPT3000ES系统进行工程测试、运用MPT3000ENV系统进行可靠性验证测试 (RDT)，以及运用MPT3000HVM系统进行生产测试，毋须耗时等待第三方PCIe Gen 4 SSD应用上市。

此外，藉由提供客户从设计到制造的完整测试流程，新的解决方案将能大幅简化过渡到下一时代装置的进程，而且使用的是与爱德万测试PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构与软件。此全方位解决方案为SSD制造业者开拓出一条风险最低、速度最快的产品上市途径。

爱德万测试系统级测试副总Colin Ritchie表示：「为了因应各式各样的SSD协定与规格，我们推出模块化MPT3000平台，并且在功能方面更上层楼，能协助客户验证和测试最新一代PCIe存储器。本系统具备高度弹性，再加上tester-per-DUT架构和硬件加速特点，使其成为所有工程、量产和内建自我测试电路 (BIST) 应用最理想的单一系统解决方案。」