NI发表2012年自动化测试展望报告

NI美商国家仪器发表了2012年自动化测试展望报告，其中总结多家公司的技术研究结果，并分享了多家公司最新的测试？量测技术。此份报告说明多个产业的趋势，包含通讯、汽车、半导体、航太？国防、医疗装置、消费性电子。透过此份报告，工程师与管理阶层将可了解最新策略，另有测试作业的最佳化实例。

此份报告共分为5大项：商业策略、架构、运算、软件、I/O。并将讨论下列主要趋势：

• 测试组织最佳化： 各家公司均审慎评估测试工程与战略性资产，以期能于高竞争性的环境中杀出一片天。
• 设计流程中的量测与模拟：以完整模型搭配实际量测，将提升产品品质并缩短开发时间。
• PCI Express外部界面：电脑内部的高速、低潜时汇流排，可强化外接界面而提升新的系统拓扑。
• 移动设备迅速普及：目前几乎已达「人手1支智能手机，所有背包都装了1台平板电脑」的情况，同时正改变着测试系统的监控方式。
• 可携的量测演算法：新的工具将仅需开发1组量测 IP，却部署到各式各样的处理元件中。

2012 自动化测试展望报告，是根据学术？产业研究、使用者讨论？调查、业务情报、客户建言所归纳而得。此份报告所提供的数据，将可协助建构未来的产业趋势与技术，以期解决测试产业的业务与技术难题。

自动化测试报告属于NI Test Leadership Council的一部分。NI将跨越不同产业领域，与全球数千位的客户合作出最佳实例，最后再与大家分享。NI Test Leadership Council的方式是邀请测试产业的领导厂商齐聚一堂一同讨论，如此也得以得知商业与技术的重要信息。Test Leadership Council包含技术交流、互动网络、领导厂商高峰会等活动。